Applied logistic regression / David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow
(Wiley series in probability and mathematical statistics ; . Applied probability and statistics)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | New York : Wiley , c1989 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiii, 307 p. : ill. ; 24 cm |
書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Bibliography: p. 291-300 Includes index "A Wiley-Interscience publication." |
|---|---|
| 著者標目 | *Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley |
| 件 名 | LCSH:Regression analysis |
| 分 類 | LCC:QA278.2 DC20:519.5/36 NDC8:417 |
| 書誌ID | TY00013336 |
| ISBN | 0471615536 |
| NCID | BA07517813 |
