Proceedings : 32nd Annual Meeting of the Electron Microscopy Society of America, St. Louis, Missouri, August 13-15, 1974 / edited by Claude J. Arceneaux
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | Baton Rouge : Claitor's , 1974 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | 575 p. : ill. ; 27 cm |
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| 別書名 | 背表紙タイトル:Electron Microscopy |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| 著者標目 | Annual Meeting Electron Microscopy Society of America Arceneaux, Claude J. Electron Microscopy Society of America |
| 書誌ID | TY00107380 |
| NCID | BA29032501 |